活動回顧

活動介紹 本次 NI × GIT 半導體測試研討會，到 US […]

GIT與麗臺攜手，展示整合VLM多模態OCR技術與多模型融合應用的AI五面外觀檢測解決方案。此技術不僅可高精度辨識各種非標準物件與文字標示，更透過整合機械手臂，實現全自動五面全檢與分流流程，大幅簡化產線作業，提升生產效率。

活動介紹 為了在 2050 年達到淨零轉型的目標，自動駕駛技 […]

GIT 於現場展出三大核心技術亮點 NI Test Foru […]