SEMICONDUCTOR
Semiconductors

Automation Solutions for the Semiconductor Industry
Semiconductors drive modern technology, with increasingly complex designs and diverse applications. To achieve high-quality standards in chip manufacturing, we provide solutions such as wafer optical inspection, PMIC test handlers, and SiP one-to-many testing, meeting the stringent demands of assembly processes.
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Semiconductors drive modern technology, with increasingly complex designs and diverse applications. To achieve high-quality standards in chip manufacturing, we provide solutions such as wafer optical inspection, PMIC test handlers, and SiP one-to-many testing, meeting the stringent demands of assembly processes.
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Fiber Optic Assembly Automation Solution
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SiP one-to-many high-speed test automation solution
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PMIC test automation solution
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Wafer Optical Inspection Automation Solution
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Power Amplifier Measurement Solutions
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Data collection and measurement solutions Product image
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Power Management IC (PMIC) Measurement Solutions
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光纜組裝自動化解決方案
GIT專注於科技應用的系統整合,其中「光纜組裝自動化解決方案」整合了機械手臂、精密視覺定位、壓接模組與智慧感測系統,可實現高速、高精度的光纖對位、切割、剝線、插接與測試流程,大幅提升生產效率與產品一致性。該方案可依據不同光纖模組形式進行模組化配置,靈活導入於各種產線環境,減少人力依賴,降低錯誤率,提升產線整體良率與競爭力,是光通訊製造業邁向智慧製造的最佳利器。

SiP一對多高速測試自動化解決方案
本方案整合機械手臂、自動上下料系統與高精度視覺對位技術,實現SiP多站點同步測試作業,全面提升產線效率與測試準確率。透過單一機械手臂搭配智慧排程,可對多測試站進行高速取放與精準定位,降低設備重複投資與人工依賴。同時結合Jedec Tray自動上下料與客製化治具系統,讓測試流程更具彈性並支援多品項切換,此方案能有效因應高密度封裝技術所帶來的製程挑戰,是推動智慧製造與自動化測試升級的關鍵利器。

PMIC測包機自動化解決方案
PMIC 測包機 是一款先進的自動化系統,旨在提升電源管理集成電路 (PMIC) 測試與封裝的效率和精度。該方案整合了尖端技術,優化生產流程,確保在競爭激烈的製造環境中提供高品質輸出。專注於可靠性和可擴展性,該系統有效應對 PMIC 生產中的關鍵挑戰。

晶圓光學檢測自動化解決方案
晶圓光學檢測方案是專為半導體製造設計的自動化系統整合解決方案,旨在提升晶圓生產過程中的品質與效率,透過高精度光學技術,該方案能快速檢測晶圓表面缺陷,確保產品符合嚴格的品質標準,系統整合自動化流程,減少人工干預,適用於各種晶圓尺寸與製程需求,助力企業提升產能與良率。


數據蒐集量測解決方案
我們的數據蒐集量測方案整合了精密量測設備與智能化數據分析系統,提供從驅動器馬達電流監控到震動分析的全方位解決方案。系統能夠即時收集製造過程中的關鍵參數,透過預測判斷發報機制,提前識別潛在問題並自動上報至工廠EDC系統,實現製造過程的智能化監控與品質保證。

電源管理IC(PMIC)量測解決方案
GIT 的電源管理IC((PMIC)測試方案專為現代電子製造業設計,提供全面的雜訊與漣波分析、負載暫態響應測試以及直流精度量測功能。系統透過自動化測試平台,能夠精確檢測電源管理IC在各種工作條件下的性能表現,確保產品符合嚴格的電源品質標準,為客戶提供可靠的電源解決方案驗證服務。


