2025-07-16

2025 NI Test Forum 展覽回顧

GIT 於現場展出三大核心技術亮點

GPU 高效運算伺服器

專為 AI 模型訓練與推論所設計，支援高併發與高速資料處理需求，適用於各類智慧製造場景。

2D/3D AI 視覺瑕疵檢測系統

用深度學習演算法，實現高精度缺陷辨識，適用電子元件、工業製品等多種檢測應用。

PMIC(電源管理晶片)自動測試方案

搭配 NI 測試平台，整合高速量測與自動化測控，協助半導體客戶提升測試效率與品質。

NI Test Forum論壇不僅是技術交流的重要平台
再次展現在 AI 應用與半導體測試領域的深厚實力，未來也會持續與 NI 及產業夥伴合作
提供高效、客製化的測試與自動化解決方案，推動智慧製造再升級

NI Test Forum

NI Test Forum 展覽

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